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Geräte
Röntgenbeugung
| Bruker D8 Advance |
| Pulverdiffraktometer mit Bragg-Brentano Geometrie und CuKα Strahlung für Routine-Planpräparat-Messungen, Messungen unter Inertgas (Dom) und temperaturabhängige Messungen |
| Panalytical X'Pert |
| Pulverdiffraktometer mit Bragg-Brentano Geometrie und CuKα Strahlung für Routine-Planpräparat-Messungen und temperaturabhängige Messungen |
| Servicestelle Röntgenbeugung |
Thermische Analyse
| Netzsch TG F1 Iris |
| Thermo-Mikrowaage gekoppelt an FT-IR-Spektrometer |
| Netzsch DSC 204 F1 Phoenix |
| Dynamisches Differenz-Kalorimeter |
| Netzsch STA409/414 |
| DSC-TG-MS mit Skimmerkopplung, Quadrupol-MS, bis 1480°C (theoretisch bis 1700°C) |
| Mettler-Toledo TGA-DSC |
| Simultane TGA und DSC Messung bis 1600°C, koppelbar an Massenspektrometer |
Elementaranalyse
| NOA TC436DR |
| Bestimmung von N und O in Metallen |
| Vario Micro cube der Firma Elementar |
| Bestimmung von C, H und N |
| Servicestelle Elementaranalytik |
Elementanalytik
| Potenziostat 757 und 797 VA Computrace, Metrohm |
| DC/AC-Polarographie |
| AAS Unicam 969 |
| FAAS (Flammen-Atom-Absorptions-Spektrometrie) |
| Optima 2000 DV, Perkin-Elmer |
| ICP-OES (Induktiv gekoppeltes Plasma - Optische Emissions-Spektrometrie) |
| 7500cx mit HMI, Agilent |
| ICP-MS (Induktiv gekoppeltes Plasma - Massen-Spektrometrie) |
| Kopplungstechniken: |
| CE-ICP-MS (CE: Beckman-Coulter P/ACE-MDQ), HPLC-ICP-MS (HPLC: Agilent 1100/1200 ChemStation |
Spektrometer
HP Impedanzspektrometer HP 4192A |
Charakterisierung von elektrischen Eigenschaften von Materialien in Abhängigkeit von der Frequenz (5 Hz bis 13 MHz) |
| Perkin Elmer Lambda 750 |
| UV-VIS-NIR-Spektrometer für diffuse Reflexion (Perkin Elmer Inc., USA) |
| Perkin Elmer Lambda 25 |
| UV-VIS-NIR-Spektrometer für Küvetten |
| Bruker Vertex 70 |
| FT-IR-Spektrometer |
| Perkin Elmer LS55 |
| Lumineszenz-Spektrometer |
| Horiba FluoroMax 4 Spektrofluorometer |
| Fluoreszenz-Spektrometer (Horiba Scientific, Japan) |
| Horiba Modular, fasergekoppeltes Raman-Spektrometer |
| Nd:YAG Laser, 532 nm, "SuperHead" Messkopf und Probenkammer (Horiba Scientific, Japan) |
Sonstige Ausstattung
| Plasmaätzer Diener |
| Plasmaanlage Diener FEMTO (Diener electronic GmbH & Co KG, Plasma-Surface-Technology) |
| Fritsch Pulverisette 7 premium line |
Hochleistungs-Planeten-Mikromühle (Zentrifugalbeschleunigung: 95 g, integriertes Mess-System zur Darstellung der Druck- und Temperaturwerte während der Mahlung) |
| Retsch PM 100 |
Planeten-Kugelmühle (Zentrifugalbeschleunigung: 33,3 g) |
| Retsch MM 500 Nano |
Schwingmühle (mit der Möglichkeit zur Kryogenvermahlung) |
| ALV/CGS-3 Compact Goniometer System (Firma: ALV) zur Dynamischen Lichtstreuung (DLS) |
| Dynamische und statische Lichtstreuung zur Partikelgrößenbestimmung |
| Anton-Paar Digitales Refraktometer Abbemat 350 |
| Digitales Refraktometer nD-Bereich 1,26 bis 1,72 mit Probenstempel (Anton Paar, Germany) |
| Anton Paar MCR 301 |
| Platte-Platte-Rheometer (Temperaturbereich -150°C - 450°C) |
| Mikroskop |
| Das Erzmikroskop erlaubt hauptsächlich die Untersuchung von Dünnschliffen oder planen Werkstücken. |
| Stereolupe |
Stereolupe, die max 110-fache Vergrößerung erlaubt. Bessere Tiefen- schärfe erlaubt auch die Betrachtung von Probenpulver und anderen Proben. |
| Kontaktwinkelmesssystem (Marke Eigenbau) |
| Zur Bestimmung der Benetzbarkeit unterschiedlicher Oberflächen. |
| Seven Multi pH-Meter und Leitfähigkeitsmessgerät (Firma: Mettler Toledo) |
| Zur pH-Wert- und Leitfähigkeitsbestimmung von wässrigen Lösungen oder Dispersionen. |
| Thermo Scientific Megafuge Zentrifuge |
| Kühlbare Zentrifuge mit Festwinkelrotor für 6 x 50 mL Zentrifugenröhrchen. |