Thermische in-situ Prüfung

Um den thermischen Einfluss auf ein Probenmaterial in-situ zu untersuchen,  stehen unterschiedliche Heizmodule zur Verfügung.

In-situ Prüfung

  • Kühl- und Heiztisch (LN2 bis 600°C) für die Rasterelektronenmikroskopie
  • Heiztisch bis 1500°C für die Lichtmikroskopie
  • Heiztisch für die Transmissionselektronenmikroskopie
  • Kühl- und Heiztisch für AFM und Nanoindenter