Rasterkraftmikroskopie

Bruker Dimension Icon

Das Dimension Icon vereint die neuesten Entwicklungen der branchenführenden nanoskaligen Bildgebungs- und Charakterisierungstechnologien von Bruker in einem Rasterkraftmikroskop-System für große Proben. Mit dem temperaturkompensierten Wegmesssystem des Dimension Icon wird nur äußerst geringes Bildrauschen erzeugt (im Sub-Angström-Bereich in z-Richtung und im Angström-Bereich in x- und y-Richtung). Ein Leistungsvermögen auf solch hohem Niveau hat sich bereits zum neuen Standard in der Rasterkraftmikroskopie entwickelt.

Technische Daten

X-Y scan range 90 μm x 90 μm
Z range 10 µm
Vertical noise floor <30 pm RMS
X-Y position noise (closed-loop) 0.15 nm RMS
X-Y position noise (open-loop) 0.10 nm RMS
Z sensor noise level (closed-loop) 35 pm RMS
Integral nonlinearity (X-Y-Z) <0.5 % typical
Motorized position stage (X-Y axis) 180 mm × 150 mm inspectable area; 2μm repeatability, unidirectional; 3μm repeatability, bidirectional
Microscope optics 5-megapixel digital camera; 180μm to 1465μm viewing area; Digital zoom and motorized focus
Kontrollierbare Atmosphäre (Stickstoff, Argon, Sauerstoff)

Modi

ScanAsyst, PeakForce Tapping, TappingMode (air/fluid), Contact Mode, LFM, Lift Mode, MFM, Force Spectroscopy, Force Volume, EFM, Surface Potential, Piezoresponse Microscopy, Force Spectroscopy, STM, Kontaktresonanz-AFM (CR-AFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (SKPFM), EC-AFM

In-situ Devices

Heizen
Elektrochemie
Uniaxialer Zug
Biegung

Bruker Dimension Fastscan

Das Rasterkraftmikroskop Dimension FastScan™ zeichnet sich als Add-On zum Dimension Icon System durch seine extreme Geschwindigkeit in der Bildgebung aus.

Technische Daten