Mechanische in-situ Prüfung

Zur Bestimmung mechanischer Kennwerte können in-situ Module in verschiedenen bildgebenden Forschungsgeräten eingesetzt werden. In der Elektronenmikroskopie können Lastversuche und deren Einfluss auf die zweidimensionale Mikro- und Nanoskala untersucht werden. Die Mikro-CT ermöglicht die Abbildung der dreidimensionale Mikrostruktur unter Last.

In-situ Prüfung in der Rasterelektronenmikroskopie

Gezeigt ist die dünne Spitze eines Nanoindenters, der horiztontal auf eine Probe ausgerichtet ist.
© Jutta LukschIm REM eingebauter ASMEC Nanoindenter

Indenter: Asmec UNAT 2

Der Indenter kann in und ex situ verwendet werden. Er bietet eine Vielzahl variabler Messmodi und kann sowohl im Rasterelektronen- als auch im Lichtmikroskop betrieben werden.

Technische Daten

  •     Prüfkraft, max. 200 mN
  •     Verschiebung, max. ca. 200 μm bei 20 mN; ca. 1500 μm bei 200 mN
  •     Rauschniveau der Kraftmessung (RMS) ≤ 0,5 μN
  •     Rauschniveau der Wegmessung (RMS) ≤ 0,5 nm
  •     Tischsystem X- und Y-Tisch: Bewegungsbereich (Standard) 21 x12 mm
  •     X- und Y-Tisch: Positioniergenauigkeit ≤ 50 nm
  •     Z-Tisch: Bewegungsbereich 15 (optional 25) mm
  •     Z-Tisch: Positioniergenauigkeit ≤ 0,1 μm

Modi

  •     Dynamische mechanische Analyse (DMA)
  •     Scratch-Tests
  •     Constant and Variable Strain Rates
  •     Ermüdung von Mikroproben

Zusatz-Devices

  •     Heizmodul bis 300°C
 
Mechanisches Bauteil mit einem beweglichen Teil auf zwei Führungsschienen.
© Michael MarxKammrath & Weiß Zug-/Druckmodul

Kammrath & Weiß Zug-/Druckmodul

  • Maximale Zug / Druckkraft: 5 kN
  • Maximaler Verfahrweg: 4 mm symmetrisch (insgesamt 8mm)
  • Zuggeschwindigkeit: <0,2 bis 100 µm / s
  • Maximale Probendicke: 5 mm
  • Maximale Probenbreite: 18 mm
  • Maximale Probenlänge: 50 mm (bei längerer / kürzerer Probe verringert sich der maximale Verfahrweg)
  • Minimale Probenlänge: 30 mm (bei längerer / kürzerer Probe verringert sich der maximale Verfahrweg)
  • Kraftgesteuert oder Weggesteuert
 
Mechanisches Bauteil mit einer Klemmvorrichtung für einen 3-Punkt Biegeversuch.
© Michael MarxKammrath & Weiß 3-Punkt-/4-Punktbiegemodul

Kammrath & Weiß 3-Punkt-/4-Punktbiegemodul

  • Maximale Kraft: 200 N
  • Maximaler Verfahrweg: 5 mm (kann durch Nachfahren verlängert werden)
  • Maximale Probendicke: 2 mm
  • Maximale Probenbreite: 10 mm
  • Maximale Probenlänge: 48 mm (bei längerer / kürzerer Probe verringert sich der maximale Verfahrweg)
  • Minimale Probenlänge 42 mm (bei längerer / kürzerer Probe verringert sich der maximale Verfahrweg)
  • Weggesteuert
 

In-situ Prüfung in der Transmissionselektronenmikroskopie

Verformungshalter Gatan Model 654

  • mechanische Verlängerung: 2 µm / s
  • Auflösung bei 0° Kippwinkel: 0,34 nm
  • Probengröße: 2,5 x 11,5 mm
  • Maximale Probendicke: 400 µm

In-situ Prüfung in der Röntgentomographie

Zylinderförmige Lasteinheit mit einem röntgentransparenten Teil aus Glaskohlenstoff auf einm Probentisch in einer CT.
© Jonas FellLasteinheit Deben CT5000 eingebaut in eine Mikro-CT

Lasteinheit: Deben CT5000

Lasteinheit für die Mikro-CT:

  • Zug-/Druckversuche
  • weg- oder kraftgeregelt
  • Kraftmessdose: 500 N, 1 kN, 5 kN
  • maximaler Verfahrweg: 10 mm